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當(dāng)前位置:首頁技術(shù)文章普泰克-芯片高低溫測試機操作使用
測試腔(溫箱):封閉空間,可快速升降溫(通常范圍:-60℃~+150℃,部分設(shè)備可達(dá) - 100℃~+200℃),內(nèi)部有樣品放置臺和溫度傳感器。
溫控系統(tǒng):含加熱器、制冷機組(如壓縮機制冷 + 半導(dǎo)體輔助控溫)、風(fēng)道循環(huán)裝置,實現(xiàn)腔體內(nèi)溫度精準(zhǔn)控制(波動≤±0.5℃)。
測試接口模塊:
電連接器(如探針臺、測試插座):連接芯片與外部測試儀器(示波器、萬用表、信號發(fā)生器等),傳輸電信號。
信號線纜:需耐高溫 / 低溫,避免溫度變化影響信號傳輸。
控制系統(tǒng):工業(yè)計算機或觸摸屏,用于設(shè)置溫度參數(shù)、測試流程、報警閾值等,支持手動 / 自動模式。
安全保護(hù)裝置:超溫報警、過流保護(hù)、腔門連鎖(開門時暫停升降溫)、制冷機壓力保護(hù)等。
設(shè)備放置在平整、通風(fēng)良好的場地,遠(yuǎn)離熱源、水源和腐蝕性氣體,預(yù)留≥50cm 的散熱空間(尤其制冷機側(cè))。
電源:確認(rèn)電壓(如 AC 220V/380V)、頻率與設(shè)備匹配,接地可靠(避免靜電損壞芯片和設(shè)備)。
制冷介質(zhì):若為水冷式制冷機,檢查冷卻水流量、壓力是否達(dá)標(biāo)(通常 0.2~0.5MPa),水質(zhì)需潔凈(避免結(jié)垢堵塞)。
芯片:確認(rèn)樣品型號、測試要求(如溫度點、測試時長、需驗證的參數(shù)),提前固定在測試載具(如 PCB 板、樣品架)上,避免直接用手接觸(需戴防靜電手環(huán) / 手套)。
測試線纜:檢查線纜是否老化、接頭是否松動,確保與芯片引腳、測試儀器接口匹配(如 USB、GPIB、射頻接口等)。
輔助工具:防靜電鑷子、扳手(固定接口)、記錄本(記錄測試數(shù)據(jù))。
開機前檢查腔門密封膠條是否完好(避免溫度泄漏),內(nèi)部無雜物、水漬。
啟動設(shè)備電源,觀察控制面板是否正常自檢(無報錯代碼),風(fēng)扇、制冷機運行聲音是否正常。
打開測試腔門(部分設(shè)備需先按下 “開門許可" 按鈕,解除連鎖保護(hù)),將固定好芯片的載具平穩(wěn)放置在樣品臺上,確保芯片與樣品臺接觸良好(若需快速傳導(dǎo)溫度,可涂抹導(dǎo)熱硅脂)。
連接電信號:將測試線纜一端接入芯片引腳(或載具接口),另一端連接到外部測試儀器(如半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、ATE 自動測試系統(tǒng)),確保接線無誤(避免短路)。
關(guān)閉腔門,確認(rèn)門扣鎖緊(腔門未關(guān)嚴(yán)時,設(shè)備無法啟動升降溫程序)。
在控制面板或配套軟件中選擇 “手動模式"(單溫度點測試)或 “自動模式"(多溫度點循環(huán)測試)。
關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置:
目標(biāo)溫度:根據(jù)測試需求輸入(如 - 40℃、25℃、85℃、125℃),注意不可超過設(shè)備溫區(qū)范圍。
升溫 / 降溫速率:設(shè)置溫度變化速度(通常 5~10℃/min,速率過快可能導(dǎo)致芯片熱應(yīng)力過大,或溫箱超調(diào))。
穩(wěn)定時間:溫度達(dá)到目標(biāo)值后,保持該溫度的時間(如 10~30 分鐘,確保芯片溫度與腔體溫一致)。
測試時長:每個溫度點下的測試持續(xù)時間(可與穩(wěn)定時間疊加,或單獨設(shè)置)。
報警閾值:設(shè)置溫度上下限(如目標(biāo)溫度 ±5℃),設(shè)備自動停機并報警。
確認(rèn)參數(shù)無誤后,點擊 “啟動" 按鈕,設(shè)備開始按程序運行:
若為降溫:制冷機啟動,腔體內(nèi)溫度下降,風(fēng)道循環(huán)風(fēng)扇運行(均勻溫度);
若為升溫:加熱器工作,溫度上升;
溫度接近目標(biāo)值時,系統(tǒng)自動微調(diào)(如 PID 控制),進(jìn)入 “穩(wěn)定階段"。
穩(wěn)定階段結(jié)束后,通過測試儀器對芯片進(jìn)行性能測試(手動記錄數(shù)據(jù)或通過軟件自動采集)。
在自動模式下,可預(yù)設(shè)多個溫度點(如 - 40℃→25℃→85℃→125℃→25℃),設(shè)置每個點的穩(wěn)定時間和測試步驟,設(shè)備會自動依次切換溫度并執(zhí)行測試,適合可靠性驗證(如高低溫循環(huán)試驗)。
單個溫度點測試完成后,可手動停止程序,或設(shè)置 “結(jié)束溫度"(如回到 25℃常溫)。
待腔體內(nèi)溫度降至常溫(避免樣品驟冷驟熱損壞),按下 “開門許可",打開腔門,斷開測試線纜,用防靜電鑷子取出芯片,放入防靜電盒中。
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